インドのBagoda大学の科学者たちは、世界中で米の生産に損害を与えているいもち病と紋枯病に耐性の組換えイネを開発した。科学者たちは、ダリアからとった抗カビ力のあるディフェンシンをコードする遺伝子（Dm-AMP1）を導入して作成した。Dm-AMP1の発現レベルは、組換え植物全体の可溶性タンパク質の0.43%から0.57%を占める程度を構成的に発現していた。組換え遺伝子の構成的な発現が、いもち病と紋枯病の生育をそれぞれ８４％、７２％阻害した。組換えタンパク質は、アポプラスト経路（細胞間の拡散可能な領域）に特異的に発現されていた。この領域でカビの細胞膜が膜の不安定性を引き起こし、カビの増殖を減少させるのである。
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